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Nichtleitende Trägermaterialien
Bei nichtleitenden Trägermaterialien sind in erster Linie mechanische Schichtdickenmeßsysteme wir Mikrometerschrauben oder Meßuhren anwendbar.Diese verfahren arbeiten nicht zerstörungsfrei. Neben den mechanischen Verfahren benutzt man mikroskopisch optische Verfahren, die bei pigmentieren Lacken ein Anritzen der Lackoberfläche verlangen, bei Klarlacken aber eine zerstörungsfreie Messung erlauben.
Eine spezielle Entwicklung des Mikroskops, das Lichtschichtmikroskop, erlaubt durch Vergleich zweier Lichtbanden mit einem Okularikrometer- die Lichtbanden entstehen durch Reflexion der einfallenden Strahlung am oberen und unteren Begrenzungsrand der Lackierung- eine Ausmessung der Schichtdicke.